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圖像粒度儀價(jià)格
1、缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高。電鏡： 優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。超聲波法： 優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。缺點(diǎn)：分辨率較低。透氣法： 優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性材料粉體。
2、用于測(cè)定小于0.074mm物料的粒度；③顯微鏡法，能逐個(gè)測(cè)定顆粒的投影面積，以確定顆粒的粒度，光學(xué)顯微鏡的測(cè)定范圍為150～0.4μm，電子顯微鏡的測(cè)定下限粒度可達(dá)0.001μm或更小。常用的粒度分析儀有激光粒度分析儀、顆粒圖像分析儀、超聲粒度分析儀、消光法光學(xué)沉積儀及X射線沉積儀等。
3、粒度數(shù)據(jù)的圖示法通常是以橫坐標(biāo)(x軸)列出顆粒粒度，以縱坐標(biāo)(y軸)列出測(cè)得的基準(zhǔn)量。表示數(shù)量有兩種方法：一種是列出每一粒級(jí)中的量(絕對(duì)量，分?jǐn)?shù)，或百分?jǐn)?shù))，另一種方法是列出高于或低于某一粒度的累計(jì)量(分?jǐn)?shù)或百分?jǐn)?shù))。
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